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根據(jù)鉑電阻溫度計(jì)元件,就能解釋電阻溫度系數(shù)的變化,(這種解釋對(duì)厚膜和薄膜鉑電限溫度計(jì)元件也同樣適合)假設(shè)芯棒和鉑絲上面的覆蓋層具有同樣的熱膨脹系數(shù)。形成連續(xù)的、無(wú)空隙及無(wú)裂縫的基體。鉑絲則埋在里面。鉑電阻溫度計(jì)元件通常用冷拉鉑絲繞成。使用之前,元件加熱至400℃以上的某個(gè)溫度,讓鉑絲退火.在退火溫度,鉑絲內(nèi)部的應(yīng)力在理論上降到零。元件的鉑趁埋存氧化鋁中,氣化鋁的熱膨脹系數(shù)比鉑小.當(dāng)元件從退火渴度冷卻時(shí),由于陶瓷基體的妨礙,鉑絲的收縮要比正常情況小。這就存鉑絲中產(chǎn)生張應(yīng)力,這種張應(yīng)力是隨溫度下降而增大的。由千拉伸應(yīng)變?cè)斐呻娮柙黾,所以元件冷卻時(shí)電阻的下降不象無(wú)應(yīng)變的鉑絲那么多,因而a值較低。相反,要是包圍鉑絲的陶瓷基體具有比怕高的熱膨脹系數(shù),冷卻時(shí)鉑妊就要受壓,產(chǎn)生的a值就比無(wú)應(yīng)變的鉑高。
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